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產(chǎn)品詳細(xì)頁(yè)
HORIBA堀場(chǎng)X射線熒光有害元素分析儀

HORIBA堀場(chǎng)X射線熒光有害元素分析儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):XGT-1000WR
  • 更新時(shí)間:2024-03-18
  • 產(chǎn)品介紹:HORIBA堀場(chǎng)X射線熒光有害元素分析儀
    X射線導(dǎo)向管聚焦技術(shù)保證了較高的檢測(cè)精度;厚度自動(dòng)修正;CL元素自動(dòng)修正:同軸CCD技術(shù);X射線零外溢;隨機(jī)攜帶12塊標(biāo)準(zhǔn)樣;新增金屬鍍層測(cè)厚功能。
  • 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

產(chǎn)品介紹

HORIBA堀場(chǎng)X射線熒光有害元素分析儀

HORIBA XGT-1000WR主要技術(shù)指標(biāo):

              1、 分析元素:Si~UCd/Pb高精度型;Na~U選擇:φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型

              2、 檢測(cè)精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 檢測(cè)倉(cāng)內(nèi)部尺寸:不超過(guò)460×360 mm高150 mm

              4、X射線照射徑:φ1.2 mm可選:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換

              5、 檢測(cè)器:高純硅檢測(cè)器 XEROPHY

              6、 設(shè)備重量:約 265 kg不含桌子、計(jì)算機(jī)

              7、 外形尺寸:分析部分:610W×750D×500Hmm 

       8、 信號(hào)處理部:220W×500D×480Hmm 

       9、可同時(shí)測(cè)量4層金屬鍍層的厚度。

 

                    HORIBA在能量色散XRF方面的XGT技術(shù)實(shí)現(xiàn)了微小面積、高X射線能量聚焦測(cè)量,確保了微區(qū)測(cè)量、快速測(cè)量、高精度測(cè)量。

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